光學(xué)鏈路診斷儀的原理基于光頻域反射技術(shù)，單次測(cè)量可實(shí)現(xiàn)從器件到鏈路的全范圍診斷。OCI可輕松查找并判別光纖鏈路中的宏彎、連接點(diǎn)和斷點(diǎn)，并精確測(cè)量回?fù)p、插損、光譜等參數(shù)，其事件點(diǎn)定位精度高達(dá)0.1mm。OCI不僅可用于光學(xué)鏈路診斷，還可拓展分布式光纖傳感功能，實(shí)現(xiàn)應(yīng)變和溫度高分辨測(cè)量。
 

　　當(dāng)我們?cè)谑褂霉忸l域反射(OFDR)技術(shù)檢測(cè)光鏈路，不僅能獲得高空間分辨率的回波強(qiáng)度曲線，而且利用背向散射法測(cè)損耗可得到鏈路的沿線損耗情況及各個(gè)器件點(diǎn)的損耗。當(dāng)光鏈路中有兩路以上的分支時(shí)，各個(gè)分支的瑞利散射信號(hào)會(huì)混疊到一起，此時(shí)使用背向散射法就不能測(cè)試出各個(gè)分支光鏈路損耗情況。
 

　　背向散射法測(cè)損耗：
 

　　背向散射法是zhi定被測(cè)件DUT前一點(diǎn)的光功率作為測(cè)量回?fù)p(RL)的入射光功率，進(jìn)而獲得RL值。時(shí)域曲線包含光纖沿線損耗分布，插損值可通過DUT前后回?fù)p值計(jì)算得到，公式為：IL=(RL?-RL?)/2。以測(cè)量一根光纖跳線為例，在中間位置彎曲，測(cè)量結(jié)果如下：光頻域反射技術(shù)(OFDR)可通過背向散射法測(cè)量整段光纖的回?fù)p曲線，利用回?fù)p和插損之間的關(guān)系可以得到整條曲線各個(gè)點(diǎn)的損耗。
 

　　光頻域反射技術(shù)(OFDR)可通過背向散射法測(cè)量整段光纖的回?fù)p曲線，利用回?fù)p和插損之間的關(guān)系可以得到整條曲線各個(gè)點(diǎn)的損耗。
 

　　產(chǎn)品特點(diǎn)：
 

　　1、超高采樣分辨率和定位精度
 

　　2、超寬動(dòng)態(tài)范圍
 

　　3、可定制引纖長(zhǎng)度，便于匹配實(shí)際測(cè)量環(huán)境
 

　　4、可定制掃描測(cè)量長(zhǎng)度
 

　　5、支持多通道測(cè)量升級(jí)
 

　　主要應(yīng)用：
 

　　1、光纖微裂紋檢測(cè)
 

　　2、硅光芯片、PLC波導(dǎo)瑕疵損耗檢測(cè)
 

　　3、FA光纖陣列鏈路性能檢測(cè)
 

　　4、光器件、光模塊內(nèi)部耦合點(diǎn)、連接點(diǎn)性能檢測(cè)