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目前在光伏業界，正在進行一項重大努力，以提高光伏和發光應用中所用半導體的效率并降低相關成本。這就需要探索和開發新的制造和合成方法，以獲得更均勻、缺陷更少的材料。
無論是電致還是光致發光，都是實現這一目標的重要工具。通過發光可以深入了解薄膜內部發生的重組過程， 而無需通過對完整器件的多層電荷提取來解決復雜問題。
HERA高光譜照相機是繪制半導體光譜成像的理想設備，因為它能夠快速、定量地繪制半導體發射光譜圖，且具有高空間分辨率和高光譜分辨率的特性。
光伏設備中的缺陷會導致光伏產生的載流子發生重組，阻礙其提取并降低電池效率。電致發光光譜成像可以揭示這些有害缺陷的位置和性質。
"反向"驅動太陽能電池（即施加電流）會產生電致發光，因為載流子在電極上被注入并在有源層中重新結合。在理想的電池中，所有載流子都會發生帶間重組，這在硅中會產生1100 nm附近的光（效率非常低）。然而，晶體結構中的缺陷會產生其他不利的重組途徑。雖然這些過程通常被稱為"非輻射"重組，但偶爾也會產生光子，其能量通常低于帶間發射。捕獲這些非常罕見的光子可以了解缺陷的能量和分布。
在本實驗中，我們使用了HERA SWIR (900-1700 nm)，它非常適合測量硅發光衰減。測量裝置如圖1所示：HERA安裝在三腳架上，在太陽能電池上方，連接到一個10A的電源。640×512像素的傳感器安裝在樣品上方75厘米處，空間分辨率約為250微米。
最重要的是，HERA光學系統沒有輸入狹縫，因此光通量非常高，是測量極微弱光發射的理想選擇。
圖2.A和2.B顯示了兩個波長的電致發光（EL）圖像：1150 nm（帶間發射）和1600 nm（缺陷發射），這是4次掃描的平均值（總采集時間：5分鐘）。通過分析這些圖像，我們可以看到，盡管缺陷區域的亮度遠低于主發射區域，但它們仍被清晰地分辨出來。此外，具有強缺陷發射的區域的帶間發射相對較弱。
我們可以注意到有幾個區域在兩個波長下都是很暗的；這可能是由于樣品在運輸過程中損壞了電池造成的。
圖2.C中以對數標尺顯示了小方塊感興趣區域（圖2A和2B中所示）的光譜。
金屬鹵化物鈣鈦礦薄膜的光致發光顯微研究
通過旋涂等技術含量低、成本效益高的方法，可以制造出非常高效的太陽能電池和LED。這些方法面臨的一個挑戰是在微觀長度的尺度上保持均勻的成分。光致發光顯微鏡是表征這種不均勻性的一個特別強大的工具。
HERA高光譜相機可以連接到任何顯微鏡（正置或倒置）的c-mount相機端口，并直接開始采集高光譜數據，無需任何校準程序。
在本實驗中，我們使用HERA VIS-NIR（400-1000 nm）耦合到尼康LV100直立顯微鏡（圖3）來表征兩種鹵化物前驅體合金的帶隙分布。將兩種鹵化物前驅體合金化的優點是能夠調整材料的帶隙；然而，這兩種成分經常會發生逆混合，從而導致性能損失。
本實驗的目的是檢測這種逆混合現象：事實上，混合比的局部變化會改變局部帶隙，從而導致發射不同能量的光子。
在這種配置中，激發光來自汞燈，通過帶通濾光片在350 nm處進行濾光，并通過發射路徑上的二向色鏡將其從相機中濾除。
HERA的高通量使其能夠在大約1分鐘的測量時間內收集完整的數據立方體（130萬個光譜）。
圖4.A和4.B分別顯示了所有波長（400-1000 nm）總集成信號的全尺寸和放大圖像，揭示了長度尺度在1 µm左右的明亮特征。
當我們比較亮區和暗區的光譜時（圖5.B中的黑色和紅色曲線），我們發現暗區實際上也有發射， 不僅強度較低，而且波長中心比亮區短。事實上，光譜具有雙峰形狀，很可能與逆混合前驅體的發射相對應。圖5.A的發射圖清楚地顯示了帶隙的這種變化。
我們現在可以理解為什么低帶隙區域看起來更亮了--載流子可能從高帶隙區域弛豫到那里，并且在發生輻射重組之前無法返回。
