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超分辨時間分辨共聚焦熒光顯微系統MicroTime200 STED通常用共焦顯微鏡為主體，非常適合添加到MicroTime 200中。將STED集成到系統中，一直朝著最高的穩定性和易用性發展。該系統能夠無需冗長的準備工作就可以運行STED顯微鏡，同時仍然可以選擇使用MicroTime 200的全部功能。
特點：
基于倒置顯微鏡的完整共聚焦STED系統
光學分辨率低于50nm
640nm激發，595nm和660nm附加可選
支持門控STED（gSTED）和gSTED-FCS
壓電平移臺，用于2D，3D壽命成像和精確定位
匹配有高級版易用型數據采集、分析和可視化軟件SPT64
AFM/FLIM/STED聯用的*升級
支持MicroTime 200可用的所有其他手段，即FLIM、FCS、FCCS、FLCS、FRET等
FLIMbee 振鏡掃描附件，具有出色的掃描速度靈活性和優秀的空間精度
可以通過使用FLIMbee振鏡在X軸上進行線掃描來實現scanning FCS測量
應用：
MicroTime 200 STED是一款具有單分子靈敏度和超分辨率成像功能的時間分辨共聚焦顯微鏡。 因此，該儀器可以進行多種應用，包括:
受激發射損耗顯微鏡（STED）/門控STED（gSTED）
單分子光譜/探測
時間分辨熒光
熒光壽命成像（FLIM）
磷光壽命成像（PLIM）
熒光相關光譜（FCS）
熒光壽命相關光譜（FLCS）
熒光共振能量轉移（FRET）
雙聚焦熒光相關光譜（2fFCS）
掃描FCS （sFCS）
脈沖交替激發（PIE）
熒光各向異性（偏振）
模式匹配分析
時間分辨光致發光（TRPL）
TRPL 成像
反聚束效應
參數：
光學分辨率 | ＜50 nm（STED） ＜300 nm（共聚焦） |
激發系統 | 激光耦合單元，包含皮秒半導體激光器（375 nm – 900 nm），復頻率高達80 MHz 支持單通道或多通道驅動 可選：支持紫外266 nm* 可選：支持外接第三方激光器（如鈦藍寶石激光器） STED激發光部分 640 nm（激發光），765 nm（STED激光） 雙樣品STED采用640 nm和595 nm激發光 雙樣品STED采用640 nm和660 nm激發光 |
顯微鏡 | Olympus的 IX 73或 IX 83倒置顯微鏡 專為共聚焦顯微鏡設計的右側端口 預留左口和后口，可做擴展應用（如TIRF） 包含透射照明部件 *的25 mm行程的手動樣品固定臺 標準樣品架（用于20 mm x 20 mm載玻片） 可選落射熒光照明 可選低溫恒溫器用于低溫型實驗 可選與原子力顯微鏡整合 |
物鏡規格 | 標準20x和40x空氣物鏡 可選多種特殊物鏡（水/油鏡、紅外/紫外強化、TIRF、超長工作距離型等） |
掃描臺 | 壓電平移臺： 80 μm x 80 μm規格2D壓電掃描臺（1nm定位精度） PIFOC 3D立體成像（行程80 μm，定位精度1 nm） 可選樣品掃描 可選厘米級大范圍掃描臺 FLIMbee振鏡掃描頭： 圖像尺寸范圍從10 × 10 到2048 × 2048 µm （60x 物鏡） 高達2.6 FPS @ 512 × 512<span "="" style="box-sizing: border-box;padding: 0px;color: rgb(0, 0, 0)"> 像素 可選Z軸控制，如z-stacks (基于壓電Z軸位移臺，最大100μm行程) 像素停留時間0.5 µs到1 s |
主要光學部件 | 最多可支持4通道的共聚焦探測模塊 定制二向色鏡，增強系統穩定性 所有光學組件容易安裝、調整和更換 用于光斑分析的CCD相機和光電二極管 變量分束單元和出口端口，輕松連接外部設備 |
探測器 | 單光子雪崩二極管（SPAD） 混合型光電倍增管（Hybrid-PMT） |
數據采集方式 | 基于時間相關單光子計數（TCSPC）的TTTR測量模式 多達獨立6通道同步采集 |
分析軟件 | SymPhoTime 64 |
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