光矢量分析儀OCI-V

產(chǎn)品型號：

所屬分類：OFDR矢量分析儀

更新時間：2024-11-14

簡要描述：光矢量分析儀OCI-V是一款快速檢測光學器件損耗、色散和偏振等相關參數(shù)的光矢量分析系統(tǒng)。

詳細說明：

光矢量分析儀OCI-V其原理是采用線性掃頻光源對待測器件進行掃描，并結(jié)合相干檢測技術獲取待測器件的瓊斯矩陣，進而獲得器件插損、色散、偏振相關損耗、偏振模色散等光學參數(shù)。該系統(tǒng)采用光路設計以及*算法，實現(xiàn)智能校準，操作簡單，極大節(jié)省測試時間。

　　特點：

　　 • 自校準

• 測量長度：200m

　　 • 波段：C+L、O波段（可選）

　　 • 1秒內(nèi)測量多種光學參數(shù)

　　應用：

•平面波導器件、硅光器件、光纖器件。

　　• 波長可調(diào)器件、放大器、濾波器。

　　• 測量參數(shù)：偏振相關損耗PDL，偏振模色散PMD，插損IL，群延時GD，色散CD，瓊斯矩陣參數(shù)，光學相位。

光矢量分析儀OCI-V參數(shù)：

主要參數(shù)
	標準模式		高動態(tài)范圍模式
測量長度¹	200			m
波段	C+L 波段：1525~1625；O 波段：1265~1340			nm
波長分辨率	1.6			pm
波長精度	±1.0			pm
損耗（IL）
動態(tài)范圍	60		80	dB
插損精度	±0.1		±0.05	dB
分辨率	±0.05		±0.002	dB
回損精度	±0.1			dB
群延時（GD)
量程	6			ns
精度	±0.2		±0.1	ps
損耗范圍	45		60	dB
色散（CD）
精度	±10		±5	ps/nm
偏振相關損耗（PDL)
動態(tài)范圍	40		50	dB
精度	±0.05		±0.03	dB
偏振模色散（PMD）
量程	6			ns
精度	±0.1			ps
損耗范圍	40		50	dB
硬件
主機功率	60			W
通訊接口	USB			-
光纖接口	FC/APC			-
尺寸	W 345 * D 390 * H 165			mm
重量	7.5			kg
儲存溫度	0 ~ 50			℃
儲存與工作溫度	10 ~ 40			%RH
定制功能²
測量長度	100			m
空間分辨率	10μm@50m	20μm@100m		μm
回損測量范圍	-125 ~ 0			dB
插損動態(tài)范圍	18			dB
插、回損分辨率	0.05			dB
插、回損精度	±0.1			dB

備注：

1.透射模式測量長度200m，可拓展反射模式，測量長度為100m；

2.光矢量分析儀(OCI-V)可拓展OFDR功能，測量光纖鏈路。

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